Avaliação da Resposta de Termogeradores em Função da Exposição à Irradiação

Resumo

A aplicação de dispositivos termogeradores elétricos (TEG), com o intuito de servirem como ferramenta auxiliar na produção de energia em diferentes matrizes energéticas, tem se expandido devido à crescente preocupação com as mudanças climáticas e à proximidade do encerramento de acordos globais, como os 17 Objetivos de Desenvolvimento Sustentável (ODS), cuja vigência se estende até 2030. Nesse contexto, o uso desses dispositivos em instalações nucleares, como reatores ou mesmo em baterias radioativas, também tem aumentado. Contudo, os defeitos promovidos pela radiação ionizante em dispositivos eletrônicos — principalmente devido à interação com raios gama e nêutrons — podem limitar a implementação desses equipamentos. Este trabalho tem como foco avaliar o desempenho desses semicondutores sob diferentes níveis de dose de radiação, de modo a aprofundar a análise do dano que pode comprometer seu funcionamento. A investigação é conduzida por meio da análise das mudanças nos parâmetros elétricos em função do aumento da dose absorvida. Os experimentos foram realizados com 10 corpos de prova, analisados antes e após a exposição a doses progressivamente crescentes, possibilitando compreender o comportamento elétrico dos dispositivos nessas condições. Os resultados preliminares, obtidos apenas com radiação gama, indicam aumento dos parâmetros elétricos na faixa de 1 kGy a 2 kGy. Para doses mais elevadas, de até 8 kGy, os valores dos parâmetros apresentaram maior semelhança com os dispositivos não irradiados, podendo indicar um efeito de compensação em altas doses (rebound) ou de barreira de Schottky.